XRF鍍層測(cè)厚儀的工作原理和影響測(cè)量因素

　　XRF鍍層測(cè)厚儀主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。

　　XRF鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量工作原理：

　　1、磁性測(cè)厚法：

　　適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測(cè)量精度高（如：鐵等磁性材料）

　　2、渦流測(cè)厚法：

　　渦流測(cè)量原理是高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測(cè)厚法一樣，渦流測(cè)厚法也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

　　影響XRF鍍層測(cè)厚儀的因素有：

　　1、試件的變形：丈量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出牢靠的數(shù)據(jù)。

　　2、邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行丈量是不牢靠的。

　　3、基體金屬電性質(zhì)：基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其資料成分及熱處理方法有關(guān)。運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　4、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。

　　5、曲率：試件的曲率對(duì)丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在曲折試件的表面上丈量是不牢靠的。

　　6、基體金屬磁性質(zhì)：磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性改變的影響(在實(shí)踐運(yùn)用中，低碳鋼磁性的改變能夠認(rèn)為是輕微的)，為了防止熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。