無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。基于模塊化設計的特點，Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應用。

Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀產品特點：

• 非接觸測量：避免損傷薄膜，適用于脆弱或敏感材料；

• 高精度與寬量程&：垂直分辨率達納米級，可測厚度范圍從1nm至3mm；

• 多場景適用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。

• 測量速度快：配置完成后，數秒內即可完成測量。