桌面式薄膜測(cè)厚儀美國(guó)Filmetrics F50 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以很簡(jiǎn)單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。

型號(hào)：Filmetrics-F50

更新日期：2024-08-08

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Filmetrics 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測(cè)量系統(tǒng) ，精密光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。

型號(hào)：F40

更新日期：2024-08-08

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Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 依靠 F60 的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以很簡(jiǎn)單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以非常快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非常快速，大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。 在約 45 秒的時(shí)間就可以掃描完標(biāo)準(zhǔn) 49 點(diǎn)分布圖

型號(hào)：F60-t

更新日期：2024-08-08

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