Nanosurf AFM原子力顯微鏡產品主要特點: 高起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析 針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度 智能軟件自主處理測量需求 樣品高度起伏大可達5mm，力譜曲線大范圍Z向可達100μm 分析軟件可用于大批量與復雜數據的輕松比對

型號：Flex-ANA

更新日期：2023-06-06

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Nanosurf 真空環境用原子力顯微鏡AFM產品主要特點: 實時在您的真空環境中進行AFM分析 方便集成在SEM中進行相關AFM分析 兼容于大多數電鏡而不影響SEM正常操作 可適配真空腔室環境兼容大氣環境測量 操作簡便而直觀

型號：AFSEM

更新日期：2023-07-24

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光學3d表面輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以很低的價格實現次納米級的表面形貌研究。

型號：Profilm3D

更新日期：2024-07-24

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光學輪廓儀廠家 支持3D量測和成像功能，并提供整合隔離工作臺和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統，可實現全自動測量。該系統采用ZDot技術，可同時采集高分辨率3D數據和True Color（真彩）無限遠焦點圖像。Zeta-388具備Multi-Mode（多模式）光學系統、簡單易用的軟件、低擁有成本，以及SECS / GEM通信，適用于研發及生產環境。

型號：Zeta-388

更新日期：2024-07-24

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光學表面輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以低的價格實現次納米級的表面形貌研究。

型號：Profilm3D

更新日期：2024-07-24

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Profilm3D光學輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得更加能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以優勢的價格實現次納米級的表面形貌研究。

型號：Profilm3D

更新日期：2023-06-05

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P-170臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。 P-170具有的圖案識別算法、增強的光學系統和的平臺，這了性能的穩定和系統間配方的無縫移植- 這是24x7生產環境的關鍵要求。

型號：P-170

更新日期：2023-07-24

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P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。

型號：P-17

更新日期：2023-07-24

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