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          Bowman XRF高精度鍍層測厚儀

          簡要描述:Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。

          • 產品型號:B系列
          • 廠商性質:代理商
          • 更新時間:2025-06-24
          • 訪  問  量:653
          產品詳情

          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統





          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統產品介紹:

          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。



          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統優勢:

          XRF系統

          高分辨率的固態探測器具有良好的元素分辨能力,無需二次濾波器。峰位長時間保持穩定,無需頻繁地進行再校準。與其他同類型設備相比,X射線管和探測器的閉合耦合幾何布局光子數有明顯提升。

          直觀的用戶界面

          Bowman配套軟件將為儀器的性能提供支持。Bowman XR F高精度鍍層測量系統的分析數據擁有強大的軟件作為支持,該軟件將擁有直觀的用戶界面,操作簡單友好。測量數據可通過批次號進行檢索,報告可一鍵生成。用戶可以無限制地創建新的應用程序和報告格式,所有結果自動保存到電腦數據庫,所有用戶級別都可以設置密碼保護。

          廣泛的鍍層厚度測量范圍

          BowmanXRF高精度鍍層測量系統可對13號鋁元素到92號鈾元素進行高精度測量分析。

          • 單層鍍層:Au,Ag,Ni,Cu,Sn,Zn等

          • 合金鍍層:ZnNi合金,SnPb合金等鍍層厚度和成分比例同時分析

          • 雙層鍍層:Au/Ni/Cu,Sn/Ni/Cu,Cr/Ni/Fe等

          • 三層鍍層:Au/Pd/Ni/Cu等

          • 至多可分析5層鍍層

          • 可同時分析25種元素成分

          • 可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度

          • 可分析ROHS有害元素


          Bowman XRF 高精度鍍層測量系統服務支持:

          Bowman為用戶提供的XRF技術支持和服務。目前,除美國芝加哥總部外,Bowman已在全球四大洲二十余個國家建立了辦事處或機構。博曼始終致力于通過提供現場技術支持服務,從而成就用戶。Bowman在中國上海設有演示應用中心,培訓中心及備品配件庫,在深圳,杭州,西安設有辦事處。有能力為客戶提供貼心的鍍層厚度檢測方案和快速相應的售后服務。



          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統配置:

          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可以升級為包括多個準直器,可變焦距相機和SDD探測器。



          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統測量原理:

          ?Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。當高能X射線照射金屬薄膜表面時,入射光子擊出薄膜或基底材料原子的內層電子形成空穴。外層電子躍遷填補空穴時釋放特征X射線熒光,其能量與元素的原子序數一一對應,通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素,通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

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          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統行業應用:

          半導體

          線路板

          電鍍

          汽車

          航空航天

          首飾/珠寶

          連接器

          緊固件

          電子元器件

          引線框架

          管道

          切削工具



          Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統產品參數:

          元素測量范圍:

          13號鋁元素到92號鈾元素

          X射線管:

          50W(50kV和1mA)微聚焦鎢靶射線管

          探測器:

          準直:硅固態探測器,分辨率為190eV或更高
          光學元件:大窗口硅固態探測器,分辨率為190eV或更高

          分析能力:

          5層(4層+基礎),每層10個元素。同時分析多達25種元素的成分

          更多參數可聯系我們獲取




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