-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀：F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個不同的位置（EXR和UVX版本多兩個位置）。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機(jī)軟件來控制啟動/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導(dǎo)出到主機(jī)軟件中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。

型號：F32

更新日期：2024-07-24

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Film Sense FS-8™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。

型號：Film Sense FS-8

更新日期：2025-04-27

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-Filmetrics膜厚測量儀 F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、自動基定、全封閉測量平臺、預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī)，以及升級到全自動化晶圓傳輸?shù)臋C(jī)型。

型號：F60

更新日期：2023-06-05

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-Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).僅需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

型號：F54

更新日期：2023-07-24

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-Filmetrics光學(xué)薄膜厚度測量儀：依靠F50的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點(diǎn)并測試厚度，測試非?？焖伲蠹s每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保能夠做成千上萬次測量。

型號：F50

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系統(tǒng) -Filmetrics膜厚測量儀的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，F(xiàn)40是不錯的選擇。

型號：F40

更新日期：2023-06-05

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-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用：

型號：F20

更新日期：2024-07-24

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-Filmetrics膜厚測量儀：以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統(tǒng)價(jià)格的一小部分，用戶就能進(jìn)行低/高分析、確定 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。

型號：F10-RT

更新日期：2023-06-05

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